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Scanning Probe Microscopy (SPM)
캔틸레버및 튜닝 포크, 원자력 현미경 (AFM), AFAM, MRFM, LFM, EFM, KPFM, 일정한 진폭, Q-제어, SNOM, 다중 주파수 AFM, 멀티 모드 AFM, 스캐닝 터널링 현미경(STM), 테라 헤르츠-SNOM
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Quantum & Nanophysics
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펌프 및 프로브 현미경, 테라 헤르츠 분광기, 위상 도메인 형광 측정, 비선형 광학 현미경, 코히어런트 라만 현미경(CARS, SRS), 주파수 빗, 시간 및 주파수, 텐덤 복조
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오실레이터 및 공진기, MEMS 제어, NEMS 제어, 메커니컬 자이로(자이로스코프), 광학 자이로, 트랜스듀서
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복조기, 칩 특성분석, 태양 전지, 임피던스 분석, 레이더 탐지
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미세 유체공학 / 싱글 셀 탐지 / 소팅, 전기 임피던스 분광법(EIS), 전기 임피던스 단층 촬영(EIT), 셀 카운팅, 셀 정렬, 셀 분석, 비말조작(Droplet manipulation), 단세포 인쇄
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다중 주파수 정전위 실험
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비파괴 재료 검사(NDT), 임피던스 측정, 초음파, 방사선 검출, 볼로미터, 핵 및 입자 물리, 광원, 빔 위치 모니터, 장기 드리프트 보상(Long term drift compensation)
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