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프로브 테스트 솔루션

진공 프로브 스테이션 Vacuum probe station

Organic 디바이스 / MEMS 디바이스 재료 연구개발용

Organic 디바이스 / MEMS 디바이스 재료 연구개발용

  • 10-3 pa에 상응하는 진공도
  • 스테이지의 X, Y 축을 50 mm 단위로 이동 가능
  • 모든 종류의 커넥터(Connector) 가능
  • 미세 전류 측정 가능
  • 다핀 대응 프로브 카드형
Vacuum probe station

4 매니퓰레이터(manipulator) 타입

  • 진공 정도는 10 – 3 Pa 지원
  • 신호 분리 방법은 개별 사양에 대응
  • 미세 전류 측정 가능
  • 스테이지 X Y 50 ㎜ 가동
  • 스테이지 크기는 100 ㎜ 까지 가능
Vacuum probe station

프로브 카드 타입

  • 프로브 카드 타입으로 여러 개의 핀(pin) 가능
  • 진공 정도는 10 - 1Pa에 부응
  • 비측정 물은 프로브 카드의 교체에 따라 부응
  • X,Y,Z 및 θ 스테이지에 따라 정렬
  • 가족친화우수기업
  • 청년친화 강소시업
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