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Model ACS

ACS(Automated Characterization Suite) 테스트 시스템

Model ACSCart
ACS 통합 테스트 시스템은 디바이스, 웨이퍼 또는 카세트 수준에 적용 가능한 다양한 목적으로 구성이 가능한 계측기를 기반으로 한 시스템입니다. 키슬리의 검증된 계측기를 기반으로 구축된 이 시스템의 특유 계측 기능은 강력하고 융통성 있는 자동화용 소프트웨어와 결합하여 유사 시스템에서 사용할 수 없는 다양한 어플리케이션 및 기능을 전달합니다.

ACS 테스트 시스템에는 하나의 잘 정돈된 사용자 인터페이스가 있으며 자동화된 특성 분석, 신뢰성 테스트, 파라미터 테스트, 심지어 간단한 기능 테스트 또는 웨이퍼 분류 작업에 적합합니다.
Model ACS의 주요기능
  • Intuitive GUI simplifies test plan development, test execution, and results analysis
  • Develop and execute tests at the device, site, wafer, and cassette level
  • Supports a wide range of instruments and system configurations including multi-SMU parallel test systems
  • Full control of semi-automatic and fully-automatic probers
  • Interactive and real-time data plotting
관련 어플리케이션
Compatible with emerging and mature testing needs for:
  • Component test
  • Component characterization
  • Device characterization
  • Parametric test
  • Reliability test
  • Die sort
관련 자료
데이터 시트 ACS Basic Edition Semiconductor Parametric Test Software for Component and Discrete Devices
ACS-2600-RTM Data Sheet
ACS Automated Characterization Suite Software
Model 4200-BTI-A Ultra-Fast NBTI/PBTI Package for the Model 4200-SCS
어플리케이션 노트 ACS Integrated Test System for Multi-Site Parallel Test
VDS Ramp and HTRB Reliability Testing of High Power Semiconductor Devices with Automated Characterization Suite (ACS) Software
ACS Integrated Test System for Lab-Based Automation
Testing Power Semiconductor Devices with Keithley High Power System SourceMeter SMU Instruments
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