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Model S530

파라메트릭 테스트 시스템

Model S530Cart
반도체 특성 분석 시스템
키슬리의 파라메트릭 테스트 시스템은 반도체 제조 FAB와 웨이퍼 수탁 가공 업체들의 테스트 원가 절감에 바탕을 두고 있습니다. 단순히 구매 당시의 비용만을 절감시켜 드리는 것이 아니라 장기간의 고품질 성능 보장을 통해 차세대 디바이스들을 위해 지속적으로 재 사용할 수 있어, 새로운 시스템의 투자 필요를 감소시켜 미래의 투자에 대한 비용을 절감시켜 드립니다.
Model S530의 주요기능
  • Readily adaptable to new devices and test requirements
  • Fast, flexible, interactive test plan development
  • Compatible with popular fully automatic probe stations
  • Options for 1kV, C-V, pulse generation, frequency measurements, and low-voltage measurements
  • Compatible with Keithley's Model 9139A Probe Card Adapter
  • Supports reuse of existing five-inch probe card libraries
  • Proven instrumentation technology ensures high measurement accuracy and repeatability in both the lab and the fab
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