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System 25 레이저 다이오드 LIV 테스트 시스템 키트

Model SYSTEM25

사용자의 테스트 필요에 맞춰 구성이 가능한 LIV 시스템
키슬리의 LIV (light-Current-Voltage) 테스트 시스템 키트는 레이저 다이오드 모듈(LDMs) 제조업체들이 수율(Yield) 및 생산성을 높임으로써 제품 수요를 충족할 수 있도록 설계 되었습니다. LIV 테스트 시스템은 통합기기 패키지 내에 모듈을 테스트하는데 필요한 모든 DC 측정 기능 그리고 광파워 측정 및 테스트 디바이스에 대한 온도제어 기능을 결합하였습니다. 이 시스템은 성능이 검증된 키슬리의 제품들로 구성 되었으며 기본 구성은 새로운 측정 기능이나 연결을 추가시 용이합니다. 키슬리는 통신, 트리거링 및 테스트 디바이스와의 연결을 위한 케이블 및 어뎁터를 포함한 시스템 구성이 가능합니다. 구성 제품의 랙 장착을 위한 하드웨어 또한 포함되어 있습니다.
System 25의 주요기능
  • 8초 이내에 400 포인트 스윕(Sweep) 및 측정
  • 레이저 다이오드 구성을 위한 초저잡음 전류소스(50µA)
  • 최대 5A 레이저 다이오드 드라이브 전류
  • 트리커 링크, 소스 메모리 및 버퍼 메모리가 자동 테스트 시퀀스 지원
관련 자료
데이터 시트 System 25 Laser Diode LIV Test System Kit
어플리케이션 노트 #2273 VCSEL Testing with the Model 2400 SourceMeter Instrument
#2214 High-Throughput DC Production Test of Telecommunications Laser Diode Modul
#2301 Measuring Laser Diode Optical Power with the Keithley Model 2500INT Integrating Sphere
#2217 Trigger Synchronization of Multiple SourceMeter Instruments
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