Logger Script NUBICOM
퀵메뉴 견적문의 상담문의
플루크 열화상 카메라
wit 프로브스테이션
BKprecision 895 LCR미터
77 GHz radar test system
top
HOME > NEWS

반도체 테스트 솔루션

Semiconductor Test Solution

반도체 테스트

키슬리 4200A-SCS 반도체 특성 분석기
키슬리 4200A-SCS 반도체 특성 분석기

4200A-SCS를 사용하여 반도체 장치, 소재 및 프로세스 개발에 대한 연구, 신뢰성 및 고장 분석 연구를 가속화할 수 있습니다. 최고 성능의 파라미터 애널라이저인 4200A-SCS는 전류 - 전압(I-V), 커패시턴스 - 전압(C-V) 및 초고속 펄스형 I-V 측정에 대한 동기화된 정보를 제공합니다.

키슬리 PCT 파라메트릭 커브 트레이서
키슬리 PCT 파라메트릭 커브 트레이서

MOSFET, IGBT, 다이오드 및 기타 고전력 장치를 사용하고 개발하려면 브레이크다운 전압, ON 상태 전류 및 커패시턴스 측정과 같은 포괄적인 장치 레벨 특성화를 수행해야 합니다. Keithley의 고전력 파라메트릭 곡선 트레이서 구성 라인은 모든 장치 유형 및 테스트 파라미터를 지원합니다. Keithley의 파라메트릭 곡선 트레이서 구성에는 특성화 엔지니어가 완벽한 테스트 시스템을 빠르게 개발하는 데 필요한 모든 항목이 포함되어 있습니다.

키슬리 파라메트릭 테스트 시스템
키슬리 파라메트릭 테스트 시스템

자동 웨이퍼 레벨 테스트를 위한 표준 및 사용자 정의 구성 시스템

키슬리 700 시리즈 반도체 스위칭 시스템
키슬리 700 시리즈 반도체 스위칭 시스템

반도체 장치는 속도가 빠르고 전류가 낮으므로 I-V 및 C-V 신호의 고품질/고성능 스위칭이 필요합니다. Keithley는 최대 2,880개의 채널을 지원할 수 있는 메인프레임과 반도체 애플리케이션 전용으로 설계된 매트릭스 카드 제품군이 포함되어 있는 반도체 연구 개발 및 생산 테스트 애플리케이션용 스위칭 솔루션을 제공합니다.

키슬리 ACS(자동 특성화 제품군) 소프트웨어
키슬리 ACS(자동 특성화 제품군) 소프트웨어

반도체 장치 특성화/안정성, 파라메트릭/구성 요소 테스트 환경이 제공됩니다.

키슬리 2400 시리즈 소스미터
키슬리 2400 시리즈 소스미터

  • - Ideal for Bench or Production
  • - 소싱 범위: 최대 10A 펄스, 200V, 1000W
  • - 측정 범위: 최하 10fA, 100nV
  • - Use with KickStart 2.0

SMU 2600B 단일 또는 듀얼 채널 시스템
SMU 2600B 단일 또는 듀얼 채널 시스템

  • - Ideal for Bench or Production
  • - 소싱 범위: 최대 10A 펄스, 200V, 200W
  • - 측정 범위: 최하 0.1fA, 100nV
  • - 고속 임베디드 프로그래밍

SMU 2606B 고밀도 SMU
SMU 2606B 고밀도 SMU

  • - 4 채널, 1U 폼 팩터
  • - 설치 적재 : 열 간격 요구 사항 없음
  • - 100fA, 100nV 까지 측정

SMU2650 고전력 소스미터
SMU2650 고전력 소스미터

  • - 소싱 범위: 최대 50A 펄스, 3000V, 2000W
  • - 측정 범위: 최하 1fA, 1uV
  • - 100A 전류 소스에 대해 2개 연결
  • - 1us, 18비트 샘플링 속도

키슬리 2502 듀얼 채널 피코암미터
키슬리 2502 듀얼 채널 피코암미터

  • - 2 채널
  • - 최대 전류 소스/측정 범위: 20 mA
  • - 최대 전압 소스/측정 범위: 100V
  • - 전원 측정 분해능(전류/전압): 2W 1 fA

키슬리 2510 TEC 소스미터
키슬리 2510 TEC 소스미터

  • - 1 채널
  • - 최대 전류 소스/측정 범위: 5 A
  • - 최대 전압 소스/측정 범위: 10 V
  • - 전원 : 50 W

키슬리 2510-AT Autotuning 소스미터
키슬리 2510-AT Autotuning 소스미터

  • - 1 채널
  • - 최대 전류 소스/측정 범위: 5 A
  • - 최대 전압 소스/측정 범위: 10 V
  • - 전원 : 50 W

키슬리 2520 Pulsed 레이저 다이오드 테스트 시스템
키슬리 2520 Pulsed 레이저 다이오드 테스트 시스템

  • - 1 채널
  • - 최대 전류 소스/측정 범위: 5 A
  • - 최대 전압 소스/측정 범위: 10 V
  • - 전원 : 50 W 700 nA / 0.33 mV

NI 반도체 테스트 시스템
텍트로닉스 오실로스코프

오실로스코프는 기본적으로 그래프 디스플레이 장비로, 전기 신호의 그래프를 표시하는 장비입니다. 기본적으로, 오실로스코프의 그래프는 시간이 흐름에 따라 신호가 어떻게 변화하는지 표시합니다.



NI 반도체 테스트 시스템
NI 반도체 테스트 시스템

PXI 기반의 NI 반도체 테스트 시스템(STS)은 RF 및 혼합 신호 테스트를 위해 모듈형 계측과 시스템 설계 소프트웨어를 결합하였습니다.

(우)07299 서울특별시 영등포구 경인로 775 (문래동 3가, 에이스하이테크시티 3동 2층)

  • 가족친화우수기업
  • 청년친화 강소시업