NI STS(Semiconductor Test System)으로 테스트 비용을
절감한 IDT사의 솔루션 사례

"기존의 ATE 시스템을 사용하면 테스트 시스템이 낡거나 새로운 테스트 요구사항을 반영할 수 없는 경우, 많은 비용을 들여 시스템을 재정비해야 합니다. 그러나 STS는 오픈 PXI 아키텍처를 갖추고 있기 때문에 초기 투자를 보존할 수 있고, 기존 시스템을 폐기하지 않고도 업그레이드를 통해 개선시킬 수 있습니다. "

해결 과제 :

기존 ATE시스템은 노후화되는 반면, 갈수록 디바이스 성능에 대한 요구는 늘어나고, 테스트 비용을 계속 증가하는 상황에서 자사는 보다 높은 테스트 성능 조건을 지속적으로 충족시킬 수 있는 테스트 시스템을 구축해야 했습니다.

솔루션 :

NI STS(Semiconductor Test System)의 오픈 PXI 아키텍처가 제공하는 유연성 및 여러 기능을 활용해 갈수록 높아지는 성능 조건을 만족시킬 수 있는 테스트 플랫폼을 재설정하였습니다. 또한, 새로운 시스템은 기존의 ATE 시스템처럼 테스트 시스템을 재정비하는데 높은 비용이 들거나, 시스템을 폐기해야 하지 않고 초기 투자를 보존할 수 있어야 합니다. NI STS를 사용한 결과, 테스트 성능을 증대할 수 있을 뿐 아니라 유지 관리가 어렵던 기존의 테스트 시스템을 처분하여 전체 테스트 비용을 절감할 수 있었습니다.