Logger Script NI STS(Semiconductor Test System)으로 테스트 비용을 절감한 IDT사의 솔루션 사례 - National Instruments ::NUBICOM::
퀵메뉴 견적문의 상담문의 수리교정
itestshop
itesotshop
후지쯔
라돈측정기 무료대여
top
New Products

NI STS(Semiconductor Test System)으로 테스트 비용을
절감한 IDT사의 솔루션 사례

"기존의 ATE 시스템을 사용하면 테스트 시스템이 낡거나 새로운 테스트 요구사항을 반영할 수 없는 경우, 많은 비용을 들여 시스템을 재정비해야 합니다. 그러나 STS는 오픈 PXI 아키텍처를 갖추고 있기 때문에 초기 투자를 보존할 수 있고, 기존 시스템을 폐기하지 않고도 업그레이드를 통해 개선시킬 수 있습니다. "

해결 과제 :

기존 ATE시스템은 노후화되는 반면, 갈수록 디바이스 성능에 대한 요구는 늘어나고, 테스트 비용을 계속 증가하는 상황에서 자사는 보다 높은 테스트 성능 조건을 지속적으로 충족시킬 수 있는 테스트 시스템을 구축해야 했습니다.

솔루션 :

NI STS(Semiconductor Test System)의 오픈 PXI 아키텍처가 제공하는 유연성 및 여러 기능을 활용해 갈수록 높아지는 성능 조건을 만족시킬 수 있는 테스트 플랫폼을 재설정하였습니다. 또한, 새로운 시스템은 기존의 ATE 시스템처럼 테스트 시스템을 재정비하는데 높은 비용이 들거나, 시스템을 폐기해야 하지 않고 초기 투자를 보존할 수 있어야 합니다. NI STS를 사용한 결과, 테스트 성능을 증대할 수 있을 뿐 아니라 유지 관리가 어렵던 기존의 테스트 시스템을 처분하여 전체 테스트 비용을 절감할 수 있었습니다.

  • 가족친화우수기업
  • 청년친화 강소시업
사업자등록번호 : 220-86-72761대표이사 : 신동만대표전화 : 070-7872-0701팩스 : 02-2167-3801
(우)07299 서울특별시 영등포구 경인로 775 (문래동 3가, 에이스하이테크시티 3동 2층)